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微焦斑 XRF 光谱仪
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微焦斑 XRF 光谱仪

产品标签  | 微束XRF涂层厚度 材料分析仪 涂层厚度分析仪应用

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微焦斑 XRF 光谱仪

微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。基于X-荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al到92U的固体或液体样品

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      浙江 温州 龙湾区 滨海园区二路989号 尊豪大楼409室
    详细信息
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    产品特性：方便快捷是否进口：否加工定制：否
    品牌：HITACHI/日立型号：X-Strata 920

    微焦斑 XRF 光谱仪详细介绍

    X-Strata 920

    • 正比计数器系统

    • 元素范围：钛 - 铀

    • 样品舱设计：开槽

    • XY 轴样品台选择： 固定台、加深台、自动台

    • 样品尺寸：270 x 500 x 150毫米

    • 数量准直器：6

    • 滤波器：3

    • 准直器：0.01 x 0.25毫米(0.5 x10 mil)

    • SmartLink 软件


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